SuperViewW1白光干涉測量儀系統(tǒng)具有測量精度高、功能全面,、操作便捷,、測量參數(shù)涵蓋面廣的優(yōu)點，測量單個精密器件的過程用時2分鐘以內(nèi),，確保了高款率檢測,。并且其特殊光源模式，可以廣泛適用于從光滑到粗糙等各種精密器件表面的測量。

性能特點

【3D測量,，一覽無余】

采用白光干涉技術(shù),，結(jié)合具有抗噪性能的3D重建算法，真實還原樣品的每一個細節(jié),，隨意翻轉(zhuǎn)縮放,，助您輕松觀察、測量樣品的任意特征,。

【功能強大,，參數(shù)齊全】

粗糙度、平面度,、孔洞分析等3D測量功能全部囊括,，距離、角度,、直徑測量等2D輪廓分析功能覆蓋,，有依據(jù)ISO|ASME|EUR|GBT四大國內(nèi)外標準的300余種特征參數(shù)。

【操作便捷,，簡單明了】

直觀的操作界面,，操作流程一目了然，自動聚焦,，一鍵實現(xiàn)測量過程,；可視化的工作流程樹，一鍵激活的圖庫管理功能,，所見即所得的分析功能，有一鍵分析功能,。

【高重復精度,，穩(wěn)定可靠】

采用了掃描模塊和內(nèi)部抗振設計，可實現(xiàn)高0.05%的測量精度重復性和0.002nm的粗糙度RMS重復性,。

【兩種型號,，量身定制】

W1系列白光干涉儀提供1100單鏡頭手動版和1200多鏡頭自動版兩種機型，另可針對不同的測量需求,，在兩種型號間選取不同配置進行組合,。

【廣泛應用，貼心服務】

可測2D/3D輪廓,、粗糙度,，300余種特征參數(shù)……光學3D表面輪廓儀在半導體、精密加工及微納材料等領域可得到廣泛應用,，光滑硅晶片表面粗糙度,、精密非球面弧面線粗糙度、金字塔型磁頭夾角、微透鏡陣列曲率半徑……

SuperViewW1白光干涉測量儀系統(tǒng)分辨率0.1μm,，重復性0.1%,，通過測量干涉條紋的變化來測量表面三維形貌，專用于精密零部件之重點部位表面粗糙度,、微小形貌輪廓及尺寸的非接觸式快速測量,。